設置機器一覧

利用料金一覧表はこちら (学内専用)
(5/7注)粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置の料金設定について一部変更があります。詳細は担当者にお聞きください。

機器の詳細は設備NWからご確認ください。
なお技術相談員をされている教員の方々はボランティアでセンターを助けてくださっています。
ユーザーはそのことをお忘れないようお願いします。
 
他大学・公的機関のユーザー様が利用できる機器は設備NWで公開しております。
民間企業等のユーザー様が利用できる機器は緑色 で示しております。

 

設置機器一覧

専門委員会 機器名 設置場所
(内線番号)
技術相談員 (連絡先) 毒劇物
管理者
電子顕微鏡 透過型電子顕微鏡 (TEM 2000Fx-II) 旧館1階
B102号室
(8724)
山本 (chiayay@, 8420; 7968)
山中 (jyamanak@, 8655; 7016)
山中
佐藤哲
山本
電界放射型透過電子顕微鏡 (FE-TEM Osiris) 旧館1階
B103号室
山本 (chiayay@, 8420; 7968)
山中 (jyamanak@, 8655; 7016)
走査型電子顕微鏡 (日立 S-4500) 旧館2階
B203号室
(1610)
山本 (chiayay@, 8420; 7968)
山中 (jyamanak@, 8655; 7016)
走査透過型電子顕微鏡 (STEM) 旧館1階
B102号室
(8724)
山中 (jyamanak@, 8655; 7016)
山本 (chiayay@, 8420; 7968)
集束イオンビーム加工装置 (FIB)
低角イオンミリング (PIPS) 旧館2階
B202号室
(1610)
試料研磨システム
試料トリミング装置 山中 (jyamanak@, 8655; 7016)
山本 (chiayay@, 8420; 7968)
マニピュレータ
真空蒸着装置 (TEM試料室)
ウルトラミクロトーム
クライオミクロトーム
イオンスパッタ装置B 新館3階
試料室
硬質材料用研磨装置 旧館2階
B201号室
山中 (jyamanak@, 8655; 7016)
プラズマクリーナ 旧館1階
B102号室
(8724)
山中 (jyamanak@, 8655; 7016)
山本 (chiayay@, 8420; 7968)
インレンズ型電界放射型走査電子顕微鏡 (日立 S-5200) 新館3階
306号室
山中 (jyamanak@, 8655; 7016)
材料表面総合分析システム X線光電子分光装置 (XPS) 新館3階
305号室
(8344)
佐藤哲 (testu-sato@, 8627; 7932)
近藤 (kondoh@, 8472; 7627)
篠塚 (sshinozuka@, 7888)
 
オージェ電子分光装置 (AES) 近藤 (kondoh@, 8472; 7627)
篠塚 (sshinozuka@, 7888)
電子プローブマイクロアナライザ (EPMA) 新館2階
206号室
(8411)
田中 (itanaka@, 8625; 7864)
鍋谷 (nabetani@, 8458; 7662)
綿打 (watauchi@, 8656; 7860)
篠塚 (sshinozuka@, 7888)
走査型電子顕微鏡 (JEOL JSM-6500F) 山中 (jyamanak@, 8655; 7016)
山本 (chiayay@, 7968)
村中 (tmuranaka@, 8476; 7987)
分光エリプソメータ ​(Sentech) 新館3階
305号室
(8344)
近藤 (kondoh@, 8472; 7627)
佐藤哲 (testu-sato@, 8627; 7932)
分光エリプソメータ ​(JAW)
触針式表面形状測定装置 (Dektak)
真空蒸着装置 (206号室) 新館2階
206号室
(8411)
篠塚 (sshinozuka@, 7888)
機械研磨装置 新館3階
試料室
田中 (itanaka@, 8625; 7864)
電解研磨装置
イオンエッチング装置
オスミウムプラズマコータ
イオンスパッタ装置A 旧館2階
B202号室
(1610)
高精度形状物性測定システム 三次元座標測定機 旧館1階
B106号室
(1609)
清水毅 (tsuyoshi-s@, 8445; 7608)  
円柱形状測定機
三次元粗さ測定機 旧館1階
B107号室
(1609)
万能投影機 近藤 (kondoh@, 8472; 7627)
精密万能試験機 旧館1階
B105号室
(1608)
小型万能試験機
歪測定機
ナノインデンタ 旧館2階
B208号室
(1611)
カラーレーザ顕微鏡 旧館1階
B106号室
(1609)
平 (hira@, 8417; 7880)
低温装置 液体窒素 新館1階
106号室
(1582)
村中 (tmuranaka@, 8476; 7987)  
極低温ヘリウム冷凍機 新館1階
104号室
(1602)
鍋谷 (nabetani@, 8458; 7662)
低振動型極低温ヘリウム冷凍機
ホール測定装置 村中 (tmuranaka@, 8476; 7987)
小野島 (nonojima@, 8503; 7286)
柳 (hyanagi@, 8559; 7201)
DLTS測定装置 鍋谷 (nabetani@, 8458; 7662)
矢野 (yano@, 8474; 7651)
強誘電体特性測定装置 鍋谷 (nabetani@, 8458; 7662)
矢野 (yano@, 8474; 7651)
半導体C-V測定装置 村中 (tmuranaka@, 8476; 7987)
小野島 (nonojima@, 8503; 7286)
多目的X線回折 多目的X線回折装置 (XRD) 旧館1階
B104号室
(8431)
佐藤博 (h-sato@, 8258; 7348)
篠塚 (sshinozuka@, 7888)
 
X線残留応力測定装置 旧館2階
B207号室
(1614)
試料水平型X線回折装置 新館3階
307号室
(1613)
熱分析装置
熱重量示差熱分析装置 (TG-DTA) 新館3階
301号室
示差走査熱量分析装置 (DSC)
核磁気共鳴 核磁気共鳴装置 (NMR) 新館1階
103号室
(8540)
桑原 (kuwabara@, 8548; 7782)
勝又 (masayok@, 7575)
桑原
阪根
勝又
山中
遺伝子解析システム DNAシーケンサ 教育学部
L241室(移管)
宮崎 (miyazaki@, 8149; 7421)  
サーマルサイクラ 新館3階
301号室
-
多目的画像解析装置 新館3階
301号室
多目的質量分析システム 液体クロマトグラフ質量分析装置 (LC-MS) 旧館2階
B206号室
(1612)
久本 (hisamoto@, 8658; 7853)
小久保 (susumu@, 8507; 7092)
久本
山中
有機微量元素分析装置 旧館2階
B204号室
小幡 (mobata@, 8549; 7178)
勝又 (masayok@, 7575)
ガスクロマトグラフ質量分析 ガスクロマトグラフ質量分析装置 (JEOL GC-MS) 旧館2階
B206号室
(1612)
植田 (iueta@, 8552; 7927)  
蛍光X線分析システム ICP発光分光分析装置 (ICP-OES) 新館3階
304号室
(1605)
武井 (takei@, 8616; 7869)
阪根 (eijim@, 8551; 7911)
勝又 (masayok@, 7575)
武井
勝又
山中
フーリエ変換赤外分光システム フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR) 新館3階
302号室
(1603)
小幡 (mobata@, 8549; 7178)
勝又 (masayok@, 7575)
篠塚 (sshinozuka@, 7888)
勝又
篠塚
山中
顕微赤外測定システム
顕微紫外可視近赤外分光光度計 新館3階
302号室
(1603)
田中 (itanaka@, 8625; 7864)
米崎 (yonesaki@, 8723; 7866)
レーザーラマン分光 レーザーラマン分光光度計 旧館2階
B205号室
(1617)
有元 (arimoto@, 8609; 7861)
佐藤哲 (tetsu-sato@, 8627; 7932)
勝又 (masayok@, 7575)
 
  Heリークディテクター 新館1階
電気室
佐藤哲 (tetsu-sato@, 8627; 7932)
支援室 (kbc@, 8420)
 
  走査型プローブ顕微鏡 (SPM) 旧館2階
B208号室
(1611)
佐藤哲 (tetsu-sato@, 8627; 7932)
篠塚 (sshinozuka@, 8420; 7888)
 
  電子スピン共鳴装置 (ESR) 新館1階
104号室
佐藤哲 (tetsu-sato@, 8627; 7932)
勝又 (masayok@, 8420; 7575)
 
  粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置 (DLS) 旧館2階
B204号室
小幡 (mobata@, 8549; 7178)
勝又 (masayok@, 8420; 7575)
 
  密着強度測定機 旧館2階
B201号室
支援室 (kbc@, 8420)  
  ソフトプラズマエッチング装置 新館3階
試料室
支援室 (kbc@, 8420)  

 

電話番号一覧

管理一般
事務室 8667
技術支援室 8420
センター長室 1620
会議室
専任教員室 8647
新館機器室
核磁気共鳴装置室 8540
低温実験室 1602
液体窒素貯蔵室 1582
電子線分析装置室 8411
赤外分光光度計室 1603
蛍光X線分析装置室 1604
ICP発光分析装置室 1605
電子分光装置室 8344
単結晶X線構造解析装置室 8413
熱分析装置室 1613
旧館機器室
電子顕微鏡室 8724
多目的X線回折装置室 8431
精密万能試験機室 1608
高精度精密測定解析システム装置室 1609
TEM試料準備室 1610
走査顕微鏡室
レーザーラマン分光光度計装置室 1617
質量分析装置室 1612
X線残留応力測定装置室 1614
ナノインデンター装置室 1611

 


大学連携研究設備ネットワーク

各大学が所有する研究設備の相互利用・共同利用を推進し、将来の新しい共同研究を促進することを目的として全国の大学法人と自然科学研究機構が連携して推進している事業です。
近隣機関で設置されている設備の一部が利用可能となります。
詳細はこちらを参照ください。

 

山梨県産業技術センター (包括的連携協定)

山梨県と山梨大学は、包括的かつ永続的な連携のもと、豊かで活力ある地域社会の形成と地域の振興を図ることを目的に、両間で包括的連携協定を締結しています。
この協定により、本学の教職員は山梨県産業技術センターが有する機器設備の利用が可能です。
詳細はこちらを参照ください。